高密度Plasma Etching System_NE-550EX

Etching裝置

適用於研究開發的高密度Plasma Etching裝置NE-550EX,配置有磁場ICP (ISM = Inductively Super Magnetron)、枚葉式的LL Chamber為其標準配備,實現佔地小、低價格的需求。

特點

  • 藉由磁場的輔助,與其他使用的ICP方式相比,可以產生更低的壓力、更低的電子溫度,更高密度的Plasma,從離子蝕刻到自由基蝕刻,對Plasma能有更全面的控制,作為該發用的設備也能對應更多的製程需求。

  • RF投入窗口搭載防止沉積物附著的「Star電極」。另外,設備具有加熱的功能,重視再現性與安定性的裝置概念。

  • 作為研究開發的設備,具有信賴度高的傳送Robot,簡單的裝置構造且易於維護,實現優秀的可靠性。

  • 豐富的Option功能可做選配,也支援Cassette室追加的需求。

  • 針對量產的生產線,由同樣Chamber組成的Multi-Chamber對應設備可參考NE-5700、NE-7800機型。

用途

  • 化合物材料 (LED、LD、高頻率Device或Power Device)
  • 電極加工、金屬配線、有機膜/陶瓷材料等的加工
  • 處理難以蝕刻的材料,如:強介電質、貴金屬、磁性膜等
  • Nano Implant、NEMS、MEMS、各種Sensor
  • 生物芯片(Bio-chip)、微小流體裝置、光子晶體等

規格

    項目 規格
    系統構成 研究開發/ Prototype裝置 + Load Lock室
    基板尺寸 〜150 mm 
    操作壓力 0.07〜6.7
    Uniformity ±3% max.
    基板溫度控制 靜電Chuck (ESC)

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    * 此為公式計算理論值,僅供參考。
    (bar)
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    公斤力/米2(kgf/m2)
    毫米水柱(mmH2O)
    * 此為公式計算理論值,僅供參考。
    時間 (T)
    =
    min
    公式 | t = V/S*2.303log(P1/P2)
    * 容積 (V)
    L
    * 排氣速度 (S)
    L/min
    * 初期壓力 (P1)
    Pa
    * 最終壓力 (P2)
    Pa
    排氣速度 (S)
    =
    L/min
    公式 | s = V/t*2.303log(P1/P2)
    * 容積 (V)
    L
    * 時間 (T)
    L/min
    * 初期壓力 (P1)
    Pa
    * 最終壓力 (P2)
    Pa