Dry Etching System_NE-950EX

Etching裝置

LED量產專用Dry Etching裝置NE-950EX,比本公司既有的設備實現了140%的生產性。為搭載了ICP高密度Plasma源與ULVAC獨自研發的「Star電極」的乾式蝕刻裝置。

特點

  • 實現了高生產性(比起以往提高了140%)。

  • 4 inch wafer可以7片同時處理,而6 inch wafer可以3片同時處理。小直徑的2 inch wafer可29片同時處理、3 inch wafer可12片同時處理。

  • 搭載了在化合物半導體領域擁有600台以上出貨時機的有磁場ICP (ISM※1)高密度Plasma源。(※1:ULVAC專利第3188353號)

  • 作為防止RF投入窗污染的對策,搭載了ULVAC獨家研發的「Star電極※2」。(※2:ULVAC專利第3429391號)
  • 徹底貫徹Depo對策,實現設備維護上的便利性、長期安定性,以及信賴性的硬體設備。
  • 擁有豐富的乾蝕刻製程應用技術(GaN、Sapphire、各種金屬、ITO、SiC、AlN、ZnO、4元系化合物半導體材料等)。
  • 提供豐富的Option選購功能。

用途

  • 對應LED的GaN、Sapphire、各種金屬、ITO等各項乾式蝕刻應用製程

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* 此為公式計算理論值,僅供參考。
(bar)
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標准大氣壓(atm)
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磅力/英尺2(lbf/ft2)
磅力/英寸2(lbf/in2 = PSI)
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公斤力/厘米2(kgf/cm2)
公斤力/米2(kgf/m2)
毫米水柱(mmH2O)
* 此為公式計算理論值,僅供參考。
時間 (T)
=
min
公式 | t = V/S*2.303log(P1/P2)
* 容積 (V)
L
* 排氣速度 (S)
L/min
* 初期壓力 (P1)
Pa
* 最終壓力 (P2)
Pa
排氣速度 (S)
=
L/min
公式 | s = V/t*2.303log(P1/P2)
* 容積 (V)
L
* 時間 (T)
L/min
* 初期壓力 (P1)
Pa
* 最終壓力 (P2)
Pa